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BGA焊接檢測,X-RAY檢測設(shè)備如何高效性檢測BGA器件焊裝缺陷?
分類:公司動態(tài)
發(fā)布時間:2022-09-08
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因制造成的本降低及散熱技術(shù)的提高,低于100引腳數(shù)的BGA、CSP器件封裝得到了廣泛的應(yīng)用,BGA幾乎與QFP一樣常見。BGA的出現(xiàn)提高了貼裝成品率,BGA器件的焊料球是以陣列形式分布在基板的底部的,可排布較多的I/O數(shù),其標準的焊球節(jié)距為1.5mm、1.27mm、1.0mm,細節(jié)距BGA(印BGA,也稱為CSP-BGA,當焊料球的節(jié)距<1.0mm時,可將其歸為CSP封裝)的節(jié)距為0.8mm、0.65mm、0.5mm,與現(xiàn)有的SMT工藝設(shè)備兼容,其貼裝失效率<10ppm。


以上BGA的工藝及技術(shù)越來越完善,而檢測BGA焊點的設(shè)備也越來越智能,目前檢測BGA焊點的無損檢測設(shè)備有2D及3D技術(shù)也有手動及全自動X-RAY檢測設(shè)備,接下來說說X-RAY檢測設(shè)備對BGA焊點的作用。


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雖然人們對BGA器件性能有全面的認知,但是在組裝的過程中,BGA器件會出現(xiàn)一些缺陷,這些缺陷通過肉眼是難以檢測出來的。一旦BGA器件存在缺陷,那么在使用過程中電路的可靠性就會受到影響,一般情況下都會馬上表現(xiàn)出來,如焊球焊接會形成短路,使用時,焊球很容易在枕頭上折斷形成虛焊。因此,為了檢測BGA器件焊裝缺陷,就需要用到專業(yè)且有效的視覺檢查方式——X-RAY檢測。


正業(yè)科技X-RAY檢測設(shè)備的特點就可以高效性檢測BGA器件焊裝存在的缺陷,BGA器件封裝常用的材料如FR-4、銅或陶瓷的密度不是太大,因此對于X射線來說是能透過的,使用Xray成像系統(tǒng)可清晰地看到球引腳中的錫、鉛及其他組分材料與焊料合金,運用自主研發(fā)的復(fù)盤算法和檢測算法,X-RAY檢測設(shè)備可有效將BGA焊接存在的缺陷檢測出來,如焊球的焊接、丟失焊球、焊球偏移、焊球空洞、虛焊和枕頭效應(yīng)等等。


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